实时全息三波面干涉仪的实验研究
中图分类号:

TH744.3


THE EXPERIMENTAL STUDY ON REAL-TIME HOLOGRAPHIC THREE WAVEFRONT INTERFEROMETER
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    提出了一种波面干涉与全息术结合制作的实时全息三波面干涉仪。可用于光学平面度,薄膜厚度的检测。与其它干涉仪相比,具有独特的优点。

    Abstract:

    Real-time holographic three wavefront interferometer combineing wavefront interference with holography has been proposed in this paper. The apparatus can be used for a number of pratical applications including the measurement of flatness for an optical flat. Thickness for transmissive or refective films. It has peculiar character comparing with other interferometers.

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引用本文

王丁 谢甫珍.实时全息三波面干涉仪的实验研究[J].重庆大学学报,1991,14(3):73.

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