γ辐射的散射研究
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O571.323 TH878.1

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国家自然科学基金资助项目 (1990 40 16)


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    从γ射线在射入物质体内时发生的康普顿散射现象出发 ,在忽略三次 (及以上 )散射、光电吸收的前提下 ,从理论上讨论了二次散射对工业CT机图像质量的影响。给出了两种数学模型。研究了辐射强度的减少与吸收体厚度之间 ,以及一次射线束与二次射线束的相对强度同吸收体厚度之间的定量关系。结果显示 :该讨论适用于垂直入射的平行窄束射线情形 ;二次散射会降低整个图像或部分图像的对比度 ,并将产生“压杯”现象 ;材料对射线的吸收越强、材料越厚 ,则图像对比度的降低越明显。该讨论及结论还适用于X射线源。

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引用本文

刘恩承,蔡从中,刘高斌.γ辐射的散射研究[J].重庆大学学报,2002,25(3):43-46.

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  • 最后修改日期:2001-12-05
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