室温溅射沉积ZnO:Al薄膜的工艺
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TB383 O484

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重庆市科委科研项目


ZnO:Al Films Prepared by RF Magnetron Sputtering at Room Temperature
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    ZnO:Al薄膜是一种N型宽带隙半导体材料,由于其大的载流子浓度和光学禁带宽度而表现出优良的光电特性.采用射频磁控溅射工艺,在室温下用氧化锌铝陶瓷靶(3wt%Al2O3)溅射沉积透明导电ZnO:Al薄膜,研究了各工艺参数,如氧流量、工作气压和射频功率对其光电特性的影响.实验结果表明:通氧量与靶材中含氧比例存在紧密联系,本实验在氧流量为0 sccm,射频功率400 W,Ar气为0.7 Pa,溅射时间为2.5 h的条件下,制备的ZAO薄膜最小方块电阻为65Ω/□,薄膜表面略显黄色.

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引用本文

黄佳木,董建华,张兴元.室温溅射沉积ZnO:Al薄膜的工艺[J].重庆大学学报,2004,27(4):97-99.

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  • 最后修改日期:2003-12-24
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