首页 > 过刊浏览>2007年第30卷第2期 >2007,30(2):5-8. DOI:10.11835/j.issn.1000-582X.2007.02.002  CSTR:[cstr]
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基于原子力显微镜的纳米级表面粗糙度测量

Nanometer Scale Surface Roughness Measurement Based on AFM

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